數(shù)據(jù)采集器的說明書中提到了數(shù)采的單次掃描時(shí)間，如CR6可選的掃描時(shí)間是1ms到1day。最慢1天的掃描速度，每天掃描一次，這個(gè)都可以做到?，F(xiàn)在的問題是如何讓數(shù)采以1ms的時(shí)間掃描，以獲得最大的掃描頻率呢？（因?yàn)閿?shù)字傳感器涉及到傳感器響應(yīng)指令、數(shù)據(jù)傳輸、校驗(yàn)等因素，以下只以CR6模擬測量說明。）

首先大家需要清楚，數(shù)采每次掃描傳感器，進(jìn)行測量的時(shí)間都花費(fèi)在哪里？

1.ADC，模數(shù)轉(zhuǎn)換的時(shí)間。對(duì)采集到的模擬電信號(hào)進(jìn)行數(shù)字轉(zhuǎn)換，通過與標(biāo)準(zhǔn)曲線做比對(duì)，得到當(dāng)前測量電壓。這個(gè)時(shí)間由AD芯片位數(shù)和CPU處理速度決定，是固定時(shí)間，無法更改。

2.切換通道的時(shí)間。對(duì)CR6來說，內(nèi)部只有一個(gè)ADC，多通道測量時(shí)，根據(jù)程序，把需要測量的通道切換到與AD芯片相通，完成測量。通道切換的時(shí)間固定，無法更改，但可以通過減少測量通道，來縮短掃描時(shí)間。

3.多個(gè)參數(shù)測量的時(shí)間和程序執(zhí)行的時(shí)間。如上所述，多次測量需要多次用到AD芯片。多條程序執(zhí)行會(huì)花費(fèi)更多的時(shí)間。

4.差分測量涉及到雙通道測量和反向測量，所以單端測量要比差分測量花費(fèi)時(shí)間更少。

5.單次測量的時(shí)間。

綜上所述，要想獲得最大的掃描頻率，就需要單端測量，且只進(jìn)行一次測量。但當(dāng)你在CRBasic Editor中寫一個(gè)只進(jìn)行單端測量的程序，把掃描時(shí)間設(shè)置為1ms時(shí)，編譯仍然會(huì)報(bào)錯(cuò)，程序無法執(zhí)行。

這是什么原因呢？我們只測量一個(gè)通道，且只進(jìn)行了一次測量，程序也寫到最短了，為什么掃描時(shí)間還是無法達(dá)到1ms？這就是上面提到的第五點(diǎn)，單次測量的時(shí)間。下面是單端測量的指令：

如上對(duì)參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，更改后，程序編譯沒有報(bào)錯(cuò)，雖然有個(gè)警告，但不影響程序執(zhí)行。到此，已解決文章開頭的問題，CR6以1ms掃描，以最大掃描頻率1000Hz進(jìn)行測量。

以上只提出縮短單次掃描時(shí)間，提高測量頻率的方法。但最大的測量頻率是以犧牲精度和抗干擾能力為前提的。大家在實(shí)際使用中還要根據(jù)自己系統(tǒng)要求和運(yùn)行環(huán)境，恰當(dāng)選擇掃描時(shí)間。